Surtronic S116泰勒粗糙度儀

Surtronic S116泰勒粗糙度儀

Surtronic S116泰勒霍普森粗糙度儀技術(shù)參數(shù)

泰勒霍普森粗糙度儀數(shù)據(jù)顯示 ：

泰勒代理顯示屏每頁顯示7個(gè)測(cè)試結(jié)果，屏幕上可顯示輪廓圖（剖面圖）

Surtronic S116可以打印測(cè)試結(jié)果和圖形

Surtronic S116使用Talyprofile軟件可以連接電腦，分析測(cè)試結(jié)果

Surtronic S116數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：

儀器可以存儲(chǔ)100個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)和一個(gè)圖形

儀器支持U盤大4G，多可存儲(chǔ)39,000個(gè)圖形，每批可存儲(chǔ)10萬個(gè)測(cè)試結(jié)果，共70批數(shù)據(jù)。

泰勒霍普森粗糙度儀使用Talyprofile軟件與電腦連接可以存儲(chǔ)無限數(shù)據(jù)。

泰勒霍普森粗糙度儀電源：

泰勒霍普森粗糙度儀充電器 ：USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz

充電時(shí)間：4小時(shí)

電池壽命：充電一次可以做2000次測(cè)試

待機(jī)時(shí)間：5000小時(shí)

由待機(jī)狀態(tài)到開機(jī)測(cè)試狀態(tài)，長(zhǎng)時(shí)間不超過1秒I

自動(dòng)關(guān)機(jī)：30秒– 6小時(shí)可以自行設(shè)置

技術(shù)指標(biāo)：

測(cè)量范圍：200 um 100 um 10 um 

分辨率：  100 nm 20 nm 10 nm 

底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm 

重復(fù)精度 (Ra) ：1%測(cè)試值+底噪

傳感器原：電感

測(cè)量力：150-300mg

測(cè)針針尖半徑：標(biāo)配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)

測(cè)試方式：滑動(dòng)掃描

校準(zhǔn)：自動(dòng)軟件校準(zhǔn)   標(biāo)準(zhǔn)：ISO4287