菲希爾鍍層測厚儀XDL230

菲希爾鍍層測厚儀XDL230

菲希爾鍍層測厚儀對于FISCHERSCOPE X-RAYXUL和XULM系列來說，X射線源和接收器位于測量室的下方，菲希爾鍍層測厚儀這樣可以快速方便地定位樣品。菲希爾鍍層測厚儀除此以外，視頻窗口也可以輔助定位，儀器前方的大控制臺簡化了操作，特別是在日常生產中測量大量部件時特別有用。

菲希爾xdl230盡管結構緊湊，菲希爾xdl230但這些儀器都有大容量的測量室，菲希爾xdl230這樣大的物品也可以測量。殼體的開槽設計（C型槽）可以測量諸如印刷線路板類大而平整的樣品，即使這些樣品可能無法*放入測量室。

菲希爾測厚儀樣品直接放置在平整的支撐臺上，或者定位精度更高的手動XY工作臺上。XUL和XULM都配備了比例接收器；但是它們配備的X射線管，濾片和準直器是不同的。菲希爾測厚儀便宜耐用的XUL配備了一個準直器和一個固定的濾片。內置的標準X-RAY管產生的基本射線光束較大；菲希爾測厚儀因此最小可用的準直器為0.3 mm。基于光線的擴散，最小的測量點在0.7 mm – 1mm左右。

菲希爾測厚儀XULM適合測量小的結構。它配備了微聚焦管，測量點最小可達約100μｍ，同時比例接收器仍然可以保持相對高的計數(shù)率。即使很短的測量時間也可以達到很好的重復精度。此外，XULM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應用創(chuàng)造最佳的激勵條件。

應用實例

菲希爾測厚儀XULM特別適合測量細小的部件如連接器，觸點或線，也可以測量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的超薄的金鍍層也可以用測量點為?0.25mm的準直器測量，20秒的重復精度可達2.5nm。