金屬鎳鍍層厚度測(cè)量Couloscope CMS2 STEP

COULOSCOPE CMS2 STEP庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位差

使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測(cè)量印刷線路板上剩余純錫的厚度，菲希爾代理庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。

COULOSCOPE CMS2 STEP

金屬鎳鍍層厚度測(cè)量Couloscope CMS2 STEP

CMS2 STEP 的特征是STEP測(cè)試功能（同時(shí)測(cè)定厚度和電位差）。 菲希爾代理在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化STEP測(cè)試 （根據(jù)ASTM B764-94和DIN 50022）。鍍層厚度根據(jù)庫(kù)侖法得出， 而電位差則由一個(gè)鍍有AgCl的銀電極得到。金屬鎳鍍層厚度測(cè)量

COULOSCOPE CMS2

CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，菲希爾代理包括多鍍層結(jié)構(gòu); 它的工作原理是根據(jù)陽(yáng)極溶解的庫(kù)侖法 （DIN EN ISO 2177）。 簡(jiǎn)單的操作和菜單化的操作指導(dǎo)使CMS2成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控和質(zhì)量檢驗(yàn)理想的解決方法。設(shè)備為不同的鍍層結(jié)構(gòu)配備了近100個(gè)預(yù)留的應(yīng)用程式（例如，鐵上鍍鋅，黃銅上鍍鎳）, 以及各種電解速度（例如1, 2, 5, and 10 μm/min）。這些應(yīng)用程式適用于多鍍層系統(tǒng)。

電位差測(cè)試相關(guān)知識(shí)介紹

電位差，也稱作電勢(shì)差或電壓，是衡量單位電荷在靜電場(chǎng)中由于電勢(shì)不同所產(chǎn)生的能量差的物理量。電位差的單位制為伏特(V，簡(jiǎn)稱伏)，常用的單位還有毫伏(mV)、微伏(μV)、千伏(kV)等。此概念與水位高低所造成的“水壓"相似。需要指出的是，“電壓"一詞一般只用于電路當(dāng)中，“電勢(shì)差"和“電位差"則普遍應(yīng)用于一切電現(xiàn)象當(dāng)中。

該庫(kù)侖測(cè)厚儀多用于在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化 STEP 測(cè)試。CMS2 STEP 的特征是 STEP 測(cè)試功能（同時(shí)測(cè)定厚度和電位差）。 在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化 STEP 測(cè)試 （根據(jù) ASTM B764-94和 DIN 50022）。 鍍層厚度根據(jù)庫(kù)侖法得出， 而電位差則由一個(gè)鍍有 AgCl 的銀電極得到。CSM2 STEP 版本可對(duì)單種鍍層進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)的STEP測(cè)試，以檢測(cè)電位差（如多層鎳涂層的質(zhì)量控制）。電位差，也稱作電勢(shì)差或電壓，是衡量單位電荷在靜電場(chǎng)中由于電勢(shì)不同所產(chǎn)生的能量差的物理量。電位差的單位制為伏特(V，簡(jiǎn)稱伏)，常用的單位還有毫伏(mV)、微伏(μV)、千伏(kV)等。此概念與水位高低所造成的“水壓"相似。需要指出的是，“電壓"一詞一般只用于電路當(dāng)中，“電勢(shì)差"和“電位差"則普遍應(yīng)用于一切電現(xiàn)象當(dāng)中。

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