菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

1.射線源與探測器

X 射線管：帶鈹窗口的鎢靶，三檔高壓可調(diào) (30kV/40kV/50kV)，功率 120W，壽命較上一代提升40%+

探測器：比例計(jì)數(shù)器，高計(jì)數(shù)率，快速測量響應(yīng)

準(zhǔn)直器：可選固定或可更換，最小測量光斑約0.2mm

初級濾光片：固定或自動(dòng)切換，適配不同元素測量需求

2. 測量能力

元素范圍：氯 (Cl,17) 至鈾 (U,92)

同時(shí)測量元素?cái)?shù)：最多 24 種 (需 WinFTM® BASIC 軟件)

測量方法：菲希爾基本參數(shù)法 (FP)，支持無標(biāo)樣測量

鍍層標(biāo)準(zhǔn)：符合 ISO 3497 與 ASTM B 568 國際標(biāo)準(zhǔn)

測量距離：0-80mm，電動(dòng) Z 軸行程 140mm，自動(dòng)精度補(bǔ)償

3. 機(jī)械系統(tǒng)

XY 工作臺(tái)：手動(dòng)操作，行程 200mm×200mm (標(biāo)準(zhǔn))，激光定位輔助快速找樣

Z 軸：電動(dòng)驅(qū)動(dòng)，可編程控制，適應(yīng)復(fù)雜形狀樣品 (如腔體零件)

樣品臺(tái)：可容納多種尺寸樣品，防護(hù)蓋確保輻射安全

4. 軟件系統(tǒng)

WinFTM® 軟件：直觀操作界面，支持測量程序創(chuàng)建、數(shù)據(jù)管理、報(bào)告生成

功能模塊：鍍層厚度測量、材料成分分析、溶液分析、統(tǒng)計(jì)過程控制 (SPC)

數(shù)據(jù)輸出：支持多種格式導(dǎo)出，可與 ERP 系統(tǒng)集成