菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XUL220測(cè)量原理

菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XUL220采用 X 射線熒光（XRF）技術(shù)，通過 X 射線激發(fā)樣品表面，分析鍍層厚度及材料成分。比例接收器實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，確保高精度測(cè)量，尤其適用于超薄鍍層（如 80nm 金鍍層）的檢測(cè)。

硬件配置

手動(dòng) XY 軸工作臺(tái)：支持 ±50mm 范圍內(nèi)的精細(xì)移動(dòng)，可精確定位微小區(qū)域（如 PCB 焊點(diǎn)），并適配大型工件。

高分辨率 CCD 攝像頭：實(shí)時(shí)顯示測(cè)量區(qū)域，疊加校準(zhǔn)刻度和十字線，輔助定位并減少人為誤差。

可調(diào) LED 光源：優(yōu)化不同材質(zhì)表面的成像效果，提升測(cè)量準(zhǔn)確性。

超大測(cè)量室：內(nèi)部尺寸 240×360×380mm，可容納大型工件，如汽車連接器或電器元件。

測(cè)量能力

鍍層系統(tǒng)：支持單 / 雙 / 三層鍍層（如 Zn/Fe、Ni/Cu/ABS）及雙元 / 三元合金鍍層（如 ZnNi、CuSn）的厚度測(cè)量與成分分析。

材料分析：可檢測(cè)電鍍液中金屬離子含量（如 Au、Ni、Cu），并對(duì)珠寶等貴金屬進(jìn)行無損金含量分析。