FISCHERSCOPE X-RAY XDL系列是應用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。它是由大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型儀器上發展而來的。與上一代相類似，它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能全自動檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL采用了基本參數法，因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。其測量范圍為元素氯(17)到鈾(92)。適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。