Fischer FMP10菲希爾江蘇代理哪家好

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY特點(diǎn)：

操作簡單且性價(jià)比高。

自下而上進(jìn)行測量，從而快速、簡便地定位樣品

廣泛適用：為各個(gè)行業(yè)的典型需求量身定制了多種型號

以非破壞性方式進(jìn)行鍍層厚度測量與元素分析

帶有高性能 X 射線管和高靈敏度的硅漂移探測器 (SDD)的機(jī)型，可對極薄鍍層及微量成分進(jìn)行精確測量

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY應(yīng)用：

鍍層厚度測量

厚度僅為幾納米的貴金屬鍍層

時(shí)尚首飾：對代鎳鍍層等新工藝多鍍層系統(tǒng)進(jìn)行分析

抗磨損鍍層，如：對化學(xué)鎳鍍層的厚度及磷含量進(jìn)行測量

測試納米級基礎(chǔ)金屬化層（凸點(diǎn)下金屬化層，UBM） 

材料分析

測定黃金首飾等貴金屬、手表和硬幣的成分與純度

專業(yè)實(shí)驗(yàn)室、檢測機(jī)構(gòu)以及科研院校中常規(guī)材料分析

依據(jù) RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準(zhǔn)則，檢測電子元件、包裝以及消費(fèi)品中不合要求的物質(zhì)（例如重金屬）

功能性鍍層的成分，如測定化學(xué)鎳中的磷含量。